Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula
Tesis (Doctor en Ciencias Químicas) - - Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas, 2001.
Main Author: | |
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Other Authors: | |
Format: | doctoralThesis |
Language: | spa |
Published: |
2025
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Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/11086/555976 |
_version_ | 1833678862604566528 |
---|---|
author | Pérez, Manuel Alejo |
author2 | Lopez Teijelo, Manuel |
author_facet | Lopez Teijelo, Manuel Pérez, Manuel Alejo |
author_sort | Pérez, Manuel Alejo |
collection | Repositorio Digital Universitario |
description | Tesis (Doctor en Ciencias Químicas) - - Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas, 2001. |
format | doctoralThesis |
id | rdu-unc.555976 |
institution | Universidad Nacional de Cordoba |
language | spa |
publishDate | 2025 |
record_format | dspace |
spelling | rdu-unc.5559762025-05-31T05:18:39Z Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula Pérez, Manuel Alejo Lopez Teijelo, Manuel Macagno, Vicente Antonio Bertorello, Héctor Eduardo Veglia, Alicia Viviana Electrodos Electroquímica Tungsteno Metales válvula Óxidos anódicos Fisicoquímica Tesis (Doctor en Ciencias Químicas) - - Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas, 2001. Fil: Pérez, Manuel Alejo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Departamento de Fisicoquímica; Argentina. Fil: Pérez, Manuel Alejo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Investigaciones en Fisicoquímica de Córdoba; Argentina. El estudio de los mecanismos básicos involucrados en la formación, crecimiento y estabilidad de películas sobre metales es de gran importancia en múltiples áreas de aplicación como la corrosión y pasivación de metales, manufactura de capacitores y celdas solares, refinado y pulido de metales, etc. Las películas pasivas de óxidos sobre metales, en particular, han sido y son actualmente objeto de numerosas investigaciones debido a la amplia variedad de propiedades y fenomenologs encontradas [1v. Young', M. J. Dignam1981, J. W. Schultze2000]. Los óxidos son empleados en diversos dispositivos, las películas conductoras de óxidos se utilizan como material activo en las pilas secas y en los acumuladores de plomo desde 1900. Muchos óxidos con estructura cristalina laminar (NiVO4, Ni021 C0021 Mn2041 Mn02, M0021 W03) forman compuestos subestequiométricos por reacciones de inserción de iones (H o cationes alcalinos) y electrones, siendo utilizados en las baterías recargables de litio [K. Mizushima'980, M. G. S. R. Thomas'985' 1986 M. Yoshio' 2, M. Broussely 3, Wu L¡ 19941 y en dispositivos ópticos (espejos antireflejo, ventanas de control de flujo solar, etc.) [R. B. Go1dner12, S. F. Corgan'997 , K. Yashimura' 71. Los óxidos semiconductores se emplean en la manufactura de celdas solares [R. B. Goldner' 2, S. F. Corgan'99 7, K. Yashimura'9971, capacitores y catalizadores. El estudio de la formación y crecimiento de películas de óxido sobre metales "válvula" es un tema relevante tanto en lo referente a la importancia tecnológica de estos materiales (manufactura de capacitores, protección contra la corrosión, celdas solares, etc.) como en la comprensión de los mecanismos generales de la formación, crecimiento y estabilidad de óxidos {L. Young', M. J. Dignam1981, J. W. Schu1tze °°°]. En un principio, el estudio y discusión de la naturaleza de las películas pasivas se restringió al estado de equilibrio [C. Vanleugenhage'9591 y al estado estacionario [L. Young196t, M. J. Dignam'981 , mientras que en la actualidad nuevas técnicas permiten el estudio detallado mediante la determinación de espesores, estequiometría, microestructura y propiedades electrónicas [J. W. Schultze2000]. El entendimiento de estos fenómenos, ha permitido importantes innovaciones en la manufactura de dispositivos a escala micrométrica y submicrométrica (micromaquinado electroquímico, corrosión localizada inducida por láser, etc.) [O. Voigt]. Fil: Pérez, Manuel Alejo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Departamento de Fisicoquímica; Argentina. Fil: Pérez, Manuel Alejo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Investigaciones en Fisicoquímica de Córdoba; Argentina. 2025-05-30T20:50:27Z 2025-05-30T20:50:27Z 2001 doctoralThesis http://hdl.handle.net/11086/555976 spa Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ |
spellingShingle | Electrodos Electroquímica Tungsteno Metales válvula Óxidos anódicos Fisicoquímica Pérez, Manuel Alejo Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title | Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title_full | Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title_fullStr | Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title_full_unstemmed | Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title_short | Estudio electroquímico y elipsométro del crecimiento y propiedades de óxidos anódicos de metales válvula |
title_sort | estudio electroquimico y elipsometro del crecimiento y propiedades de oxidos anodicos de metales valvula |
topic | Electrodos Electroquímica Tungsteno Metales válvula Óxidos anódicos Fisicoquímica |
url | http://hdl.handle.net/11086/555976 |
work_keys_str_mv | AT perezmanuelalejo estudioelectroquimicoyelipsometrodelcrecimientoypropiedadesdeoxidosanodicosdemetalesvalvula |