Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único - Tais, Carlos Esteban; Peretti, Gabriela Marta; Romero, Eduardo Abel; Demarco, Gustavo Luis (2024)
Ponencia presentada en el XXIII Congreso de Métodos Numéricos y sus Aplicaciones. La Plata, Argentina, del 7 al 10 de noviembre de 2017.