Tais, C. E., Peretti, G. M., Romero, E. A., Demarco, G. L., & https://orcid.org/0000-0003-1489-7982. (2024). Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único.
Chicago Style (17th ed.) CitationTais, Carlos Esteban, Gabriela Marta Peretti, Eduardo Abel Romero, Gustavo Luis Demarco, and https://orcid.org/0000-0003-1489-7982. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2024.
MLA (9th ed.) CitationTais, Carlos Esteban, et al. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2024.