Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /

Bibliographic Details
Main Author: Reimer, Ludwig, 1928-
Format: Book
Published: Berlin : Springer, 1997.
Edition:4a. ed.
Series:Springer series in optical sciences ; v. 36
Subjects:

MARC

LEADER 00000nam a22000007a 4500
003 AR_CdUFM
005 20160908122659.0
008 091130s1997 gw||||| |||| 00| 0 eng d
020 |a 3540625682 
040 |a AR_CdUFM  |c AR_CdUFM 
100 1 |9 14199  |a Reimer, Ludwig,  |d 1928- 
245 1 0 |a Transmission electron microscopy :   |b physics of image formation and microanalysis /  |c Ludwig Reimer. 
250 |a 4a. ed. 
260 |a Berlin :   |b Springer,   |c 1997. 
300 |a xvi, 584 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
490 0 |a Springer series in optical sciences ;   |v v. 36 
504 |a Includes bibliographical references (p. [495]-569) and index. 
650 4 |a Scanning probe microscopes and components. 
942 |c LIBRO 
945 |a MCR  |d 2011-07-21 
952 |0 0  |1 0  |2 PACS  |4 0  |6 F_0779_REIT  |7 0  |9 6792  |a MMA  |b MMA  |c 3  |d 2008-06-09  |e Fomec/Fisica  |l 7  |m 1  |o F 07.79 REIt   |p 13570  |r 2023-04-20 00:00:00  |s 2023-03-21  |w 2008-06-09  |y LIBRO 
999 |c 5134  |d 5134