Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /

Bibliographic Details
Main Author: Reimer, Ludwig, 1928-
Format: Book
Language:English
Published: Berlin : Springer, c2010.
Edition:2nd completely rev. and updated ed.
Series:Springer series in optical sciences ; v. 45
Subjects:

MARC

LEADER 00000nam a22000007a 4500
001 726417
003 AR_CdUFM
005 20160908124526.0
008 980605s2010 gw a | b 001 0 eng
020 |a 9783642083723 
040 |a DLC  |c DLC  |d DLC  |d AR_CdUFM 
100 1 |9 14199  |a Reimer, Ludwig,  |d 1928- 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy :  |b physics of image formation and microanalysis /  |c Ludwig Reimer. 
250 |a 2nd completely rev. and updated ed. 
260 |a Berlin :  |b Springer,  |c c2010. 
300 |a xiv, 527 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
490 0 |a Springer series in optical sciences ;  |v v. 45 
504 |a Incluye referencias bibliográficas e índice. 
650 4 |a Scanning probe microscopes and component. 
650 4 |a Electron microscopes. 
541 |a Importación de Publicaciones ;   |c Compra: Programa de Bibliotecas. Res. 591/09 ;  |d 2011-04-26 ;  |e 20898 ;  |h $733 ;  |o Libro 
942 |c LIBRO 
945 |a MCR  |d 2011-04-26 
952 |0 0  |1 0  |2 PACS  |4 0  |6 F_0779_REIS  |7 0  |9 20248  |a MMA  |b MMA  |c 3  |d 2011-04-26  |e Programa de Bibliotecas Res. 591/09: Importación de Publicaciones  |g 0.00  |l 8  |o F 07.79 REIs  |p 20898  |r 2022-06-21 00:00:00  |s 2022-06-07  |w 2011-04-26  |y LIBRO 
955 |a pc05 to ja00 06-05-98; jf06 to subj 06-05-98; jf08 06-05-98 CIP to BioAg; jb04 06-08-98; jb02 06-10-98; CIP ver. jk15 11-04-98 
999 |c 15906  |d 15905