Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único

Ponencia presentada en el XXIII Congreso de Métodos Numéricos y sus Aplicaciones. La Plata, Argentina, del 7 al 10 de noviembre de 2017.

Bibliographic Details
Main Authors: Tais, Carlos Esteban, Peretti, Gabriela Marta, Romero, Eduardo Abel, Demarco, Gustavo Luis
Other Authors: https://orcid.org/0000-0003-1489-7982
Format: conferenceObject
Language:spa
Published: 2024
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/11086/552651