Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables
Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.
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2024
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| author | Dri, Emanuel Peretti, Gabriela Romero, Eduardo |
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| collection | Repositorio Digital Universitario |
| description | Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017. |
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| id | rdu-unc.552348 |
| institution | Universidad Nacional de Cordoba |
| language | spa |
| publishDate | 2024 |
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| spelling | rdu-unc.5523482024-07-12T18:08:27Z Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables Dri, Emanuel Peretti, Gabriela Romero, Eduardo Mixed analog digital integrated circuits Switched capacitor circuits Trasientresponse analysis method Second order filters Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017. Fil: Dri, Emanuel. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Peretti, Gariela. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Peretti, Gariela. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación. Grupo de Desarrollo Electrónico e Instrumental; Argentina Fil: Romero, Eduardo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Romero, Eduardo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación. Grupo de Desarrollo Electrónico e Instrumental; Argentina El presente trabajo explora la viabilidad de un test de mantenimiento de bajo costo para filtros implementados en las secciones analógicas configurables presentes en dispositivos PSoC1. Para el test se adapta el método basado en análisis de respuesta transitoria (TRAM), con el que se obtienen las principales especificaciones de los filtros en una implementación de tipo software-based test. Para la aplicación de TRAM se requiere de un análisis que establece los recursos internos necesarios para hacer llegar el estímulo al filtro y conducir su respuesta a un pin de salida,para todas las posibles ubicaciones de los filtros. El estímulo se genera internamente con los recursos disponibles en chip. La respuesta de test se analiza externamente con una computadora y un osciloscopio. Los resultados presentados están orientados a demostrarla factibilidad del método, debiendo considerarse como preliminares. Sin embargo, estos demuestran ser promisorios dadas las bajas dispersiones logradas en las mediciones experimentales. Fil: Dri, Emanuel. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Peretti, Gariela. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Peretti, Gariela. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación. Grupo de Desarrollo Electrónico e Instrumental; Argentina Fil: Romero, Eduardo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Villa María. Grupo de Estudio en Calidad en Mecatrónica; Argentina Fil: Romero, Eduardo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación. Grupo de Desarrollo Electrónico e Instrumental; Argentina Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información 2024-06-19T19:02:05Z 2024-06-19T19:02:05Z 2017 conferenceObject http://hdl.handle.net/11086/552348 spa Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ Impreso |
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