Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables

Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.

Bibliographic Details
Main Authors: Dri, Emanuel, Peretti, Gabriela, Romero, Eduardo
Format: conferenceObject
Language:spa
Published: 2024
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/11086/552348
Description
Summary:Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.