Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | conferenceObject |
| Language: | eng |
| Published: |
Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales
2021
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/11086/20347 |
| _version_ | 1801213835942559744 |
|---|---|
| author | Petrashin, Pablo Dualibe, Carlos Toledo, Luis Lancioni, Walter |
| author_facet | Petrashin, Pablo Dualibe, Carlos Toledo, Luis Lancioni, Walter |
| author_sort | Petrashin, Pablo |
| collection | Repositorio Digital Universitario |
| description | Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina. |
| format | conferenceObject |
| id | rdu-unc.20347 |
| institution | Universidad Nacional de Cordoba |
| language | eng |
| publishDate | 2021 |
| publisher | Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales |
| record_format | dspace |
| spelling | rdu-unc.203472021-09-18T09:26:58Z Low-cost dc bist for analog circuits: a case study Petrashin, Pablo Dualibe, Carlos Toledo, Luis Lancioni, Walter DC_TEST Analog Testing Electrónica Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina. Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina. This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults. Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina. Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina. Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información 2021-09-16T18:36:12Z 2021-09-16T18:36:12Z 2013 conferenceObject http://hdl.handle.net/11086/20347 eng Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ Electrónico y/o Digital Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales |
| spellingShingle | DC_TEST Analog Testing Electrónica Petrashin, Pablo Dualibe, Carlos Toledo, Luis Lancioni, Walter Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title | Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title_full | Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title_fullStr | Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title_full_unstemmed | Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title_short | Low-cost dc bist for analog circuits: a case study |
| title_sort | low cost dc bist for analog circuits a case study |
| topic | DC_TEST Analog Testing Electrónica |
| url | http://hdl.handle.net/11086/20347 |
| work_keys_str_mv | AT petrashinpablo lowcostdcbistforanalogcircuitsacasestudy AT dualibecarlos lowcostdcbistforanalogcircuitsacasestudy AT toledoluis lowcostdcbistforanalogcircuitsacasestudy AT lancioniwalter lowcostdcbistforanalogcircuitsacasestudy |