Image formation in low-voltage scanning electron microscopy /

Bibliographic Details
Main Author: Reimer, Ludwig, 1928-
Format: Book
Language:English
Published: Bellingham, Washington : SPIE Optical Engineering Press, c1993.
Series:Tutorial texts in optical engineering ; v. TT 12
Subjects:

MARC

LEADER 00000pam a2200000 a 4500
001 2506315
003 AR_CdUFM
005 20160908124451.0
008 921215s1993 waua b 001 0 eng
020 |a 0819412066 
040 |a DLC  |c DLC  |d DLC  |d AR_CdUFM 
100 1 |9 14199  |a Reimer, Ludwig,  |d 1928- 
245 1 0 |a Image formation in low-voltage scanning electron microscopy /  |c Ludwig Reimer. 
260 |a Bellingham, Washington :  |b SPIE Optical Engineering Press,  |c c1993. 
300 |a xii, 143 p. :  |b il. ;  |c 26 cm. 
490 0 |a Tutorial texts in optical engineering ;  |v v. TT 12 
504 |a Incluye referencias bibliográficas (p. 121-139) e índice. 
541 |a Programa de bibliotecas Resolución 591/09  |c Compra  |d 2010-08-30  |e 20605  |h $292  |o Libro 
650 4 |a Scanning probe microscopes and component. 
650 4 |a Low-voltage scanning electron microscopy. 
650 4 |a Electron optics. 
650 4 |a Electron microscopy. 
942 |c LIBRO  |2   
945 |a MCR  |d 2010-08-30 
952 |0 0  |1 0  |2 PACS  |4 0  |6 F_0779_REI  |7 0  |9 19838  |a MMA  |b MMA  |c 3  |d 2010-08-30  |e Programa de Bibliotecas Res. 591/09: Importación de Publicaciones  |g 0.00  |l 3  |o F 07.79 REI  |p 20605  |r 2022-05-12 00:00:00  |s 2011-06-14  |w 2010-08-30  |y LIBRO 
955 |a pc03 to ja00 12-15-92; jb04 12-15-92; jb06 12-17-92; transferred to TA25 (LME) in CPSO on 12-17-92;td35 to SHED 12-18-92; jb05 12-22-92; to DDC 12-22-92; aa09 12-24-92; CIP ver. pv06 05-03-93 
999 |c 15569  |d 15568