Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM /

Bibliographic Details
Main Author: Egerton, Ray F.
Format: Book
Language:English
Published: New York : Springer, 2005.
Subjects:
Online Access:Table of contents
Publisher description

MARC

LEADER 00000nam a22000007a 4500
003 AR_CdUFM
005 20160908124441.0
008 100719s2005 nyu||||| |||| 00| 0 eng d
020 |a 9780387258003 
040 |a AR_CdUFM 
100 1 |9 4694  |a Egerton, Ray F. 
245 1 0 |a Physical principles of electron microscopy :  |b an introduction to TEM, SEM and AEM /  |c Ray F. Egerton. 
260 |a New York :  |b Springer,  |c 2005. 
300 |a xii, 202 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
504 |a Includes bibliographical references (p. [195]-196) and index. 
650 4 |a Microscopía electrónica 
650 4 |a Electron microscopy. 
856 4 1 |3 Table of contents  |u http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0605/2005924717.html 
856 4 2 |3 Publisher description  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2005924717-d.html 
942 |c LIBRO 
945 |a MCR  |d 2010-07-19 
952 |0 0  |1 0  |2 PACS  |4 0  |6 F_0778_EGE  |7 0  |9 19731  |a MMA  |b MMA  |c 3  |d 2010-07-19  |e Programa de Bibliotecas Res. 591/09: Importación de Publicaciones  |g 357.00  |l 5  |m 2  |o F 07.78 EGE  |p 20509  |r 2023-04-20 00:00:00  |s 2023-03-21  |w 2010-07-19  |y LIBRO 
999 |c 15484  |d 15483