Determinación de espesores en films delgados por fluorescencia de rayos X /

Se presenta un método alternativo, no estructivo para determinar espesores en muestras delgadas del orden de decenas de micrómetros por fluorescencia de rayos X. El mismo se aplica a muestras homogéneas que no necesitan poseer contornos regulares ni tamaños predeterminados en su superficie. Consiste...

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Bibliographic Details
Main Author: Bengió, Silvina, 1971-
Format: Thesis Book
Language:Spanish
Published: [S.l. : s.n. ], 1996.
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