Determinación de espesores en films delgados por fluorescencia de rayos X /

Se presenta un método alternativo, no estructivo para determinar espesores en muestras delgadas del orden de decenas de micrómetros por fluorescencia de rayos X. El mismo se aplica a muestras homogéneas que no necesitan poseer contornos regulares ni tamaños predeterminados en su superficie. Consiste...

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Bibliographic Details
Main Author: Bengió, Silvina, 1971-
Format: Thesis Book
Language:Spanish
Published: [S.l. : s.n. ], 1996.
Subjects:
Description
Summary:Se presenta un método alternativo, no estructivo para determinar espesores en muestras delgadas del orden de decenas de micrómetros por fluorescencia de rayos X. El mismo se aplica a muestras homogéneas que no necesitan poseer contornos regulares ni tamaños predeterminados en su superficie. Consiste en determinar experimentalmente las intensidades fluorescentes de los elementos constitutivos de la muestra en dos condicines diferentes de excitación, reflexión y trnasmisión; el sustrato de la muestra no debe superar ciertos límites de espesor que no permitan medir el espectro en esta última configuración. Para cada línea espectral, se toma la relación entre las intensidades transmitidas y reflejadas, de la cual podemos despejar el espesor de la muestra. Este método no necesita la utilización de patrones de referencia ni calibraciones de ningun tipo. Se llevaron a cabo mediciones en dos muestras de orden 20 y 50 µm respectivamente, logrando una presición de alrededor de 5.
Physical Description:37 h. : il. ; 30 cm.
Bibliography:Incluye referencias bibliográficas: h. 37.