Ijiri, Y., & Kaplan, R. S. (1970). Los cuatro objetivos del muestreo en auditoría: Representatividad, corrección, protección y prevención. Ediciones Macchi.
Chicago Style (17th ed.) CitationIjiri, Yuji, and Robert S. Kaplan. Los Cuatro Objetivos Del Muestreo En Auditoría: Representatividad, Corrección, Protección Y Prevención. Buenos Aires: Ediciones Macchi, 1970.
MLA (9th ed.) CitationIjiri, Yuji, and Robert S. Kaplan. Los Cuatro Objetivos Del Muestreo En Auditoría: Representatividad, Corrección, Protección Y Prevención. Ediciones Macchi, 1970.